HBM/MM ESD simuliatoriai, skirti IC testavimui

Geriausios ESD-883D HBM/MM ESD simuliatoriai IC testavimui yra didelio tikslumo ESD atsparumo testavimo įrenginys, specialiai sukurtas LISUN puslaidininkiniams komponentams (pvz., lustams, diodams, tranzistoriams ir IC moduliams). Funkcija – imituoti du įprastus elektrostatinių iškrovų modelius, su kuriais susiduriama puslaidininkių gamybos, transportavimo ir surinkimo procesuose: žmogaus kūno modelį (HBM) ir mašinos modelį (MM). Standartizuotu aukštos įtampos impulsų įpurškimu jis įvertina puslaidininkinių komponentų tolerancijos ribą elektrostatiniams smūgiams, aktyviai identifikuoja galimus statinės elektros sukeltus gedimus (pvz., užtūros gedimą ir PN sandūros pažeidimą) ir suteikia kritinį bandymų pagrindą puslaidininkinių komponentų patikimumo projektavimui ir gamyklos kokybės patikrai. Pritaikytas modulinis grandinės dizainas, jis palaiko vieno spustelėjimo perjungimą tarp HBM ir MM bandymų režimų. Jis aprūpintas didelio tikslumo įtampos grįžtamojo ryšio sistema, užtikrinančia, kad iškrovos įtampos paklaida būtų ≤ ±3 %. Be to, jis turi įmontuotą dulkėms ir korozijai atsparų korpusą, kuris atitinka griežtus puslaidininkių švariųjų patalpų (1000 klasė) aplinkos reikalavimus.

Geriausios ESD-883D HBM/MM ESD simuliatoriai aprūpinti dideliu „Android“ jutikliniu ekranu, palaikančiu tiek kinų, tiek anglų kalbas. Juo galima iš anksto nustatyti bandymo parametrus (pvz., HBM standartinius 2kV/4kV/8kV lygius) ir jis suderinamas su... LISUNpačios sukurtus puslaidininkių bandymo įtaisus (pvz., TO korpusų įtaisus ir SMD lustų įtaisus). Įrenginį galima pritaikyti puslaidininkiniams komponentams su skirtingais korpusų tipais, įskaitant DIP, SOP ir QFP, todėl nereikia dažnai keisti įtaisų. Nesvarbu, ar tai būtų lustų patikimumo tikrinimas puslaidininkių projektavimo įmonėse, gamyklų kokybės patikrinimas pakavimo gamyklose, ar atitikties sertifikavimas trečiųjų šalių laboratorijose, šis įrenginys gali užtikrinti stabilią ir tikslią bandymo aplinką, padėdamas puslaidininkių gaminiams atitikti elektrostatinės apsaugos standartus pasaulinėse rinkose.

Techniniai duomenys:

Pastaba: ESD-883D gali dalytis šeimininku su ESD-CDM įkrauto įrenginio režimo (CDM) ESD bandymas IC vienu metu išbandyti HBM, MM ir CDM (LISUN modelis: ESD-883D/ESD-CDM)

Programos:
1. Puslaidininkių projektavimo ir mokslinių tyrimų sritis
• Lustų patikimumo patikrinimas: Mikrokontrolerių (MCU), energijos valdymo lustų, radijo dažnių (RF) lustų ir kitų IC projektavimo įmonių sukurtų įrenginių atveju atliekamas HBM bandymas (pvz., standartiniai 1kV/2kV/4kV lygiai), siekiant imituoti elektrostatinę iškrovą, kai žmogaus kūnas liečiasi su lustu. MM bandymas (pvz., 0.5kV/1kV) naudojamas elektrostatinei iškrovai imituoti, kai automatinė įranga (pvz., lustų tvirtinimo įrenginiai ir zondai) liečiasi su lustu. Tai patikrina lusto užtūros oksido sluoksnio ir PN sandūros elektrostatinę varžą, optimizuoja lusto elektrostatinės apsaugos konstrukciją (pvz., pridedant ESD apsaugos diodus) ir užkerta kelią lusto gedimams, kuriuos sukelia nepakankama elektrostatinė apsauga mokslinių tyrimų ir plėtros etape.
• Naujų medžiagų elektrostatinio jautrumo bandymai: HBM/MM bandymai atliekami su naujomis puslaidininkinėmis medžiagomis (pvz., plačiajuosčio draudžiamojo tarpo puslaidininkiniais SiC ir GaN įtaisais), siekiant nustatyti šių medžiagų elektrostatinio jautrumo lygius (pvz., 000 klasė, 00 klasė). Tai suteikia patikimą duomenų pagrindą naujų medžiagų taikymui aukšto dažnio ir aukštos įtampos lustuose.

2. Puslaidininkių pakuočių ir gamybos sritis
• Pakavimo kokybės patikra: puslaidininkių pakavimo gamyklose (pvz., po DIP, SOP ir QFP pakavimo procesų) kiekvienos partijos supakuotiems įrenginiams atliekami HBM/MM mėginių ėmimo bandymai. Pasinaudojant greita dviejų režimų perjungimo funkcija ESD-883DBandymais nustatoma, ar tokios problemos kaip prasta laidų jungtis ar pažeistas pakavimo koloidas pakavimo proceso metu nesumažino įrenginių elektrostatinio jautrumo. Tai užtikrina, kad pagaminti įrenginiai atitiktų JEDEC JESD22-A114F/A115-A standartų reikalavimus.

3. Automobilių elektronikos puslaidininkių sritis
• Automobilių lustų ESD bandymai: Automobilių MCU ir jutiklių lustams (pvz., milimetrinių bangų radarų lustams ir kamerų ISP lustams) atliekami HBM 8kV ir MM 2kV bandymai, laikantis AEC-Q100 (Automobilių elektronikos komponentų patikimumo standartas) nurodytų „ESD jautrumo bandymų“ reikalavimų. Šie bandymai imituoja elektrostatinius smūgius automobilių surinkimo procesų metu (pvz., rankinis jungčių prijungimas / atjungimas, automatinis surinkimas), užtikrinant lustų elektrostatinio atsparumo patikimumą automobilių aplinkoje ir užkertant kelią transporto priemonių sistemų gedimams, kuriuos sukelia statinė elektra (pvz., prietaisų skydelio užtemdymas ir klaidingi pavojaus signalai autonominio vairavimo signaluose).
• IGBT modulių testavimas: HBM/MM bandymai atliekami su naujų energijos šaltinių transporto priemonių IGBT modulių vartų valdymo lustomis. Šie bandymai patikrina vartų grandinės elektrostatinį atsparumą, užkertant kelią IGBT įjungimo klaidai ar vartų gedimui dėl statinės elektros ir užtikrinant saugų bei stabilų elektros sistemos veikimą naujos energijos šaltinių transporto priemonėse.

4. Karinių ir didelio patikimumo puslaidininkių sritis
• Karinių lustų bandymai: Pagal GJB 548B-2020 3015 metodą ir MIL-STD-883 3015 metodą, griežti HBM/MM bandymai (pvz., HBM 8kV, MM 5kV) atliekami su kariniais ryšio, radarų ir navigacijos lustais. Šie bandymai imituoja elektrostatinius scenarijus karinių gaminių transportavimo metu (pvz., vibracija ir trintis šaudmenų dėžėse) ir naudojant mūšio lauke (pvz., žmogaus kūno statinė elektra sausoje aplinkoje), užtikrinant lustų elektrostatinį atsparumą ekstremaliomis sąlygomis ir apsaugant karinės įrangos eksploatacinį patikimumą.
• Kosmoso puslaidininkių bandymai: Kosmoso puslaidininkiniams įtaisams (pvz., palydovinės navigacijos lustams ir erdvėlaivių energijos valdymo lustams), išnaudojant platų temperatūros diapazono pritaikomumą (0 ℃ ~ 40 ℃) ESD-883DHBM/MM bandymai atliekami imituojamoje erdvėlaivio kabinos aplinkoje. Šie bandymai patikrina prietaisų elektrostatinį jautrumą kosminiame vakuume ir žemos temperatūros aplinkoje, užkertant kelią erdvėlaivių gedimams, kuriuos sukelia kosminiai elektrostatiniai išlydžiai.

5. Trečiųjų šalių testavimo ir sertifikavimo sritis
• Atitikties sertifikavimo testavimas: trečiųjų šalių testavimo įstaigos, tokios kaip SGS, CQC ir TÜV, naudoja ESD-883D įrenginys. Pagal tarptautinius standartus, įskaitant IEC 60749-26/27 ir JEDEC JESD22-A114F/A115-A, jie teikia HBM/MM elektrostatinio jautrumo bandymų ataskaitas puslaidininkių įmonėms. Tai padeda įmonių gaminiams gauti tokius sertifikatus kaip CE (ES), UL (JAV) ir CCC (Kinija), suteikiant prieigą prie pasaulinių rinkų.
• Standartinė atitikties patikra: puslaidininkių bandymų laboratorijų kvalifikacijos akreditacijai (pvz., CNAS sertifikavimui) ESD-883D Gali būti naudojamas kaip standartinis bandymų įrenginys. Reguliariai kalibruojant (atitinkantis ISO 17025 reikalavimus), užtikrinamas bandymų duomenų atsekamumas, padedant laboratorijoms sėkmingai išlaikyti kvalifikacijos auditus ir įgyti galimybę išduoti patikimas bandymų ataskaitas.

6. Vartotojų elektronikos puslaidininkių sritis
• Vartotojų klasės lustų testavimas: Su plataus vartojimo elektronikos puslaidininkiniais įtaisais, tokiais kaip mobiliųjų telefonų SoC, „Bluetooth“ ausinių lustai ir išmaniųjų namų MCU, atliekami HBM bandymai (2 kV ~ 4 kV) ir MM bandymai (0.5 kV ~ 1 kV). Šie bandymai imituoja elektrostatinius smūgius vartotojų naudojimo scenarijuose (pvz., mobiliojo telefono įkroviklio prijungimas / atjungimas, ausinių dėvėjimas), užtikrinant, kad įrenginiai atitiktų plataus vartojimo elektronikos gaminių elektrostatinės apsaugos standartus ir užkertant kelią tokioms problemoms kaip gaminio gedimai ar baterijos veikimo laiko pablogėjimas dėl statinės elektros.
• Puslaidininkinių komponentų bandymai: HBM/MM bandymai atliekami su puslaidininkiniais komponentais plataus vartojimo elektronikoje (pvz., kamerų moduliais ir ekrano tvarkyklių IC komponentais). Šie bandymai patikrina kelių lustų, kartu veikiančių komponentuose, elektrostatinę varžą, apsaugodami nuo viso komponento pažeidimo dėl vieno lusto elektrostatinio gedimo ir sumažindami plataus vartojimo elektronikos gaminių gedimų po pardavimo rodiklį.