Produkto Nr.: LS-DDT1-B
Sukamojo būgno kritimo bandymo mašina | Ritininio būgno kritimo bandymo įrenginys atitinka IEC 60068-2-31 A priedą (vietoj IEC 60068-2-32), IEC 60884-1 24.3 punkto „mechaninio stiprumo“ bandymo reikalavimų standartas. Tai aĮvertina elektrinių priedų atsparumą kritimui.
Standartas:
IEC 60068-2-31 / GB/T 2423.7 „Pagrindinės aplinkos bandymų procedūros, 2 dalis. Bandymas. Bandymo metodas: laisvas kritimas“, A priedas
IEC 60884-1 / GB/T 2099.1 „Buitiniai ir panašios paskirties kištukai ir kištukiniai lizdai. 1 dalis. Bendrieji reikalavimai“ 24.3 punktas
Sukamojo statinės kritimo bandymo mašinos bandymo tikslas:
• Išorinio apvalkalo patvarumas;
• (Sunkus) Vidinės konstrukcijos atsparumas kritimui;
• Prisitaikymas prie pakartotinių laisvų kritimų.
Sukamojo statinės kritimo bandymo mašina imituoja tiriamojo objekto laisvą kritimą įprasto naudojimo metu:
• Išmatuojamą objektą dirbtinai įdėkite į besisukantį statinę
• Išjunkite permatomą dangtelį ir apsauginį įtaisą
• Variklis suka besisukantį cilindrą pagal laikrodžio rodyklę prieš laiką
• Keičiasi vieną savaitę ir du kartus rudenį
Kaip veikia besisukančio statinės kritimo bandymo aparatas:
; • kritimo dažnis realizuojamas varikliu (5 aps./min.)
• Kritimo aukštis yra 500 mm arba 1000 mm
• Statinės konstrukcija užtikrina, kad išmatuoti objektai kristų atsitiktinai, taip išvengiant nenormalaus trinties ir susidūrimo judėjimo
Specifikacija:
| LISUN Modelis | LS-DDT1-B | LS-DDT1-A | LS-DDT2-AB |
| Besisukančio statinės kiekis | Vienas besisukantis statinės | Dvigubai besisukantis statinės | |
| Besisukančio statinės plotis | 275mm | ||
| Nuleidimo aukštis | B = 500 mm | A = 1,000 mm | A = 1,000 mm ir B = 500 mm |
| Maksimalus EUT svoris | 5kg | ||
| Kritimo dažnis | 1–20 kartų per minutę (arba 2–10 aps./min.) | ||
| Bandymų laikai | 0–999,999 XNUMX kartų (reguliuojamas) | ||

IEC 60068-2-31 A priedas

A1 pav. Besisukantis statinės formos
LISUN„“ elektrinių žaislų bandymo sprendimai sukurti taip, kad atitiktų griežtus pagrindinių...
LISUN„transformatorių bandymo sprendimai sukurti taip, kad atitiktų išsamius reikalavimus...